元器件质量离子试验

检测项目

1.表面离子污染检测：表面可溶性离子总量，表面残留离子含量，表面洁净度测试。

2.阴离子检测：氯离子，溴离子，硝酸根，硫酸根。

3.阳离子检测：钠离子，钾离子，铵离子，钙离子。

4.弱有机酸根检测：乙酸根，甲酸根，乳酸根，琥珀酸根。

5.焊接残留离子检测：助焊残留离子，焊后表面离子残留，再流工艺残留污染。

6.封装污染测试：封装表面离子残留，封装引脚污染，封装界面污染物分析。

7.引线端子离子检测：引线表面残留离子，端子接触区污染，镀层表面离子附着物。

8.清洗效果验证：清洗后离子残留，清洗均匀性，清洗工艺有效性测试。

9.耐湿可靠性相关检测：湿热条件下离子迁移风险，漏电相关污染测试，腐蚀倾向分析。

10.局部污染筛查：局部高残留区域识别，污染集中区域分析，关键部位离子分布。

11.批次一致性检测：同批样品离子残留对比，不同批次污染水平测试，生产稳定性分析。

12.失效分析辅助检测：腐蚀相关离子筛查，异常导通污染排查，失效部位残留离子确认。

检测范围

片式电阻、片式电容、片式电感、二极管、三极管、集成电路、晶体管、连接器、继电器、传感器、晶振、发光器件、功率器件、封装芯片、引线框架、端子组件、贴装元件、插件元件

检测设备

1.离子色谱仪：用于分离和测定样品中的阴离子、阳离子及部分有机酸根离子含量。

2.电导率测定仪：用于测量提取液电导变化，测试样品表面可溶性离子污染总体水平。

3.超纯水制备装置：用于提供低本底提取用水，降低外来离子对检测结果的干扰。

4.恒温提取装置：用于控制样品提取过程中的温度条件，提高离子提取的稳定性和重复性。

5.超声提取设备：用于辅助样品表面离子残留释放，提升复杂结构样品的提取效率。

6.分析天平：用于称量试剂、记录样品质量及辅助检测过程中的定量操作。

7.纯化过滤装置：用于去除提取液中的颗粒杂质，保护分析系统并改善检测数据质量。

8.恒温恒湿试验设备：用于开展湿热暴露条件模拟，辅助评价离子污染对元器件可靠性的影响。

9.表面绝缘性能测试装置：用于测试污染条件下表面绝缘状态变化，辅助分析离子迁移风险。

10.光学显微镜：用于观察样品表面污染痕迹、腐蚀特征及局部异常区域，辅助确定取样和分析部位。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.